Længdemålinger indgår på talløse måder overalt i vores dagligdag, og der er et veldokumenteret og bredt behov for geometriske målinger i hele den moderne verden. Industri og særligt højteknologi er afhængig af nøjagtige længdemålinger – fra gevindet på en møtrik til præcisionsforarbejdede dele i en skibsmotor og ned til bittesmå strukturer på mikrochips i f.eks. høreapparater og computere. Næsten alle materielle produkter kræver en nøjagtig internationale skala for længde og geometrisk form for at kunne specificeres, produceres eller handles.

I Danmark er udpeget to metrologiinstitutter på området “længde”.

Dansk Fundamental Metrologi A/S

DFM er udpeget inden for felterne Grundlæggende længdemålinger, Geometriske målinger, og Mikro/nano.

DFM opretholder primærnormaler for længde i form af frekvensstabiliserede lasere med reference til molekylære absorptionslinjer. Laserne har en meget veldefineret bølgelængde, som sikrer sporbarhed i interferometrisk længdemåling. DFM tilbyder interferometrisk kalibrering af måleklodser af højeste nøjagtighedsklasse (referencenormaler) med længder fra 0,5 mm til 100 mm. Desuden tilbydes kalibrering af afstandsmålere og lineære aktuatorer ved hjælp af laserinterferometri.

DFM’s aktiviteter inden for geometriske målinger omfatter kalibrering af ruhedsmålere, ruhedsnormaler og hulplader. Disse aktiviteter blev overdraget fra DTU Mekanik (CGM) til DFM per 1. januar 2016.

Mikro- og nanoområdet dækker over en bred vifte af geometriske målestørrelser i en skala fra ca. en nanometer til flere hundrede mikrometer, der har det til fælles, at de udmåles med særlige instrumenter og metoder. Eksempler inkluderer kalibrering af referencegitre i form af gitterperiode og stephøjde med atomic force mikroskopi, optisk mikroskopi eller såkaldt skatterometri. Ved skatterometri bestemmes dimensioner af strukturer på overfladen indirekte ud fra målinger på lys spredt fra overfladen.

For mere information, se www.dfm.dk

Teknologisk Institut – Måling & Kvalitet

TI er udpeget inden for feltet Geometriske målinger.

TI tilbyder kalibrering inden for længde og form, såsom kalibrering af måleklodser, målebånd, cylindre og kugler. TI tilbyder også kalibrering af håndholdte måleinstrument, for eksempel måleure, mikrometerskruer og skydelærer, samt ekstern kalibrering af profilprojekter og mikroskoper.

TI’s aktiviteter inden for geometriske målinger indbefatter også opmåling ved taktil og optisk koordinat målemaskine (taktil og optisk CMM, hvor den optiske er akkrediteret), samt ved røntgen CT (Computed Tomography) Scanning. CT Scanning giver mulighed for opmåling af både indre og ydre geometrier uden at prøven skal destrueres eller skæres i.

For mere information, se her.

Kontakt:

Jan Hald
DFM
Matematiktorvet 307
DK-2800 Kongens Lyngby
Danmark
+45 45 25 5876
jha@dfm.dk

Niels Thestrup Jensen
Teknologisk Institut
Måling & Kvalitet
Gregersensvej 8
DK-2630 Taastrup
Danmark
+45 7220 2956
nit@teknologisk.dk