Metrologidagen 2018

Metrologidagen 2018: Nye udfordringer på metrologiområdet

Der er nye udfordringer i måleverdenen som følge af nye fremstillingsmetoder som bl.a. ”Additive Manufacturing”. Denne nye teknologi kræver tiltag på det metrologiske felt, da der kan opstå nye og anderledes udfordringer end dem, vi kender fra eksisterende fremstillingsmetoder. En anden tendens, der karakteriserer metrologiområdet lige nu, er brugen af berøringsløst måleudstyr til karakterisering af overfladers egenskaber.

På Metrologidagen 2018 sætter vi fokus på ”Additive Manufacturing” og ”non-contact” måleudstyr.

På dagen vil også være poster sessions, hvor relevante metrologiske projekter præsenteres og diskuteres.

Teknologisk Institut er vært for Metrologidagen 2018, som holdes i Aarhus den 28. maj. Metrologidagen er organiseret i et samarbejde mellem Teknologisk Institut, FORCE Technology og DFM.

 

Program

09:00 Registrering, netværk og poster session

10:00 Velkomst og Introduktion
David Tveit, direktør, Teknologisk Institut

10:15 Velkomst
Michael Kjær, DFM

10:25 Keynote over emnerne internationalt perspektiv
Petros Stavroulakis, University og Nottingham

10:55 Pause, netværk og poster session
__________________________________________________________________________________
11:20. Spor 1 – Metrologi for Additive Manufacturing

CT scanning for additive manufacturing
CT scanning is a non-destructive technique able to provide a quick 3D visualization of complex geometry, which characterize parts produced by additive manufacturing. Computer tomography is a technology suitable for visualizing and characterizing inner and outer structures. It has the ability to show details in 2D cut, generate data for the entire production in a digitized form and gives the possibility to perform ‘reverse engineering’.
Stefania Gasparin, seniorkonsulent, Teknologisk Institut

Metrology of 3D printed parts in Danfoss
Verification and characterization of 3D printed parts with a focus on the challenges and a look at the future.
Saeed D. Farahani, Danfoss
____________________________________________________________________________________
11:20. Spor 2 – Berøringsløse teknikker til karakterisering af overfladers egenskaber

Sporbar måling af overfladetemperatur med phosfor termometer
Søren Andersen, konsulent, Teknologisk Institut

Status and prospects of metrology grade optical 3D scanning
While the state of optical 3D scanning is arguably reaching very high quality precision, we still observe severe accuracy loss in certain cases. An overview of the problems of 3D scanning from a metrological point of view is given, and how we intent to tackle some of these problems.
Søren Schou Gregersen, DTU COMPUTE
____________________________________________________________________________________

12:00 Frokost, netværk og Posters Session
____________________________________________________________________________________
13:00. Spor 1 – Metrologi for Additive Manufacturing

Metrology for additively manufactured medical implants
Jørgen Garnæs, DFM

Naturtro 3D-printede knogleimplantater
Casper Slots fra Particle3D
_____________________________________________________________________________________
13:00. Spor 2 – Berøringsløse teknikker til karakterisering af overfladers egenskaber

Droner, kameraer og 3D inspection af overflader
Claus Madsen, Create

Forbedring og måling af ruhed på additivt fremstillede metalemner
Vi er efterhånden kommet forbi ”kan det printes” og er nu nået til ”hvilken kvalitet får jeg det i”. Især i forhold til overfladefinish er der store variationer, som bl.a. afhænger af emnets orientering under byggeprocessen. Additivt fremstillede emner kan være ganske porøse, hvilket påvirker deres egenskaber negativt. Ved brug af konventionelle samt nye målemetoder er det muligt at forbedre både overfladefinish og fjerne porøsiteter. Dette foredrag viser resultater fra eksperimentelle studier hos bl.a. Grundfos.
Uffe Ditlev Bihlet, Specialist, FORCE Technology
_____________________________________________________________________________________

13:40 Kaffe, netværk og poster session

14:00 Laboratorierundvisning: 3D-print, CT-scanning og opmåling, fosfortermometri.

14:50 – 15:00 Opsamling og afslutning

Posters:

  • “Traceable three-dimensional nanometrology (3DNano)” v/ Guanghong Zeng DFM
  • “Improved material strength by length-scale engineering” v/ Jørgen Garnæs DFM
  • “Optical surface roughness measurements for high accuracy and high speed” v/ Poul Erik Hansen DFM
  • ”Metrologi.dk” v/ David Balslev-Harder DFM
  • “Sporbar overfladetemperaturmåling” v/ Søren Lindholt Andersen, Teknologisk Institut
  • ”Dynamic patterns and low flowrates for domestic water metering” v/ Søren Haack, John Frederiksen & Anders Niemann, Teknologisk Institut
  • “Installationsforhold og dynamisk aftapning” v/ Flowlaboratoriet FORCE Technology
  • “AdvanCT – Advanced Computed Tomography for dimensional and surface measurements in industry” v/ Stefania Gasparin, Teknologisk Institut
  • “Standards for the evaluation of the uncertainty of coordinate measurements in industry” v/ Stefania Gasparin, Teknologisk Institut