Metrologidagen 2018 afholdt i Aarhus

Metrologidagen blev afholdt d. 28. Maj 2018 hos Teknologisk Institut.

I år havde arrangørene af Metrologidagen 2018 fokus på udfordringer forbundet med nye fremstillingsmetoder såsom ”Additive Manufacturing”. Derudover var fokus også brugen af ”non-contact” måleudstyr, der kan bruges til at karakterisere materialers overfladeegenskaber.

Metrologidagen 2018 blev organiseret i et samarbejde mellem Teknologisk Institut, FORCE Technology og DFM. Arrangørene vil gerne takke alle gæster og indlægsholdere for deltagelsen.

Præsentationer fra Metrologidagen 2018

Velkomst og Introduktion
David Tveit, direktør, Teknologisk Institut

Naturtro 3D-printede knogleimplantater
Casper Slots fra Particle3D

Droner, kameraer og 3D inspection af overflader
Claus Madsen, Create

Metrology for additively manufactured medical implants
Jørgen Garnæs, DFM

CT scanning for additive manufacturing
Stefania Gasparin, seniorkonsulent, Teknologisk Institut

Status and prospects of metrology grade optical 3D scanning
Søren Schou Gregersen, DTU COMPUTE

Forbedring og måling af ruhed på additivt fremstillede metalemner
Uffe Ditlev Bihlet, Specialist, FORCE Technology